卓上走査電子顕微鏡(卓上SEM)

Sem


装置概要

本装置はマクロからミクロの世界を瞬時に画像提供する卓上走査電子顕微鏡です。試料挿入時に撮影された光学像で視野探しを行い拡大していくと自動でSEM像へ切り替わります(Zeromag)。鮮明な表面形態観察のための高真空モードに加え、帯電し易い試料をコーティングする必要なく観察できる2段階の低真空モードが装備され、試料準備が容易です。二次電子像や反射電子像のほか、4分割反射電子検出器による3D画像をライブ表示できます。装着されたEDSにより観察中にスペクトル分析やマップ分析が元素がリアルタイムで確認できます。得られたデータは管理ソフトにより一元化され、再解析やレポート作成が短時間で行えます。

装置仕様

1. 装 置
2. 仕 様

[卓上SEM]

[EDS]

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