透過型電子顕微鏡(TEM)
!TEMのリユース機が導入されました!
現有のSTEM(JEM-2100F)は高い分解能を有し様々な分析に対応可能な高性能機である一方、観察対象や目的によっては不向きであったり、操作
が複雑で初心者には難しい面もありました。
今回導入されたTEM(JEM-1010)は分解能ではSTEMに劣るものの、ナノメートルオーダーの超微形態観察が可能で、主に生物試料や高分子材料の観察に向いています。操作も簡便なため、STEM観察前のスクリーニングや
初心者のためのエントリー機としてもご利用いただけます。STEMと同じメーカーのCCDカメラが接続されており、ソフトも同じためSTEM利用との互換性もよくお使いいただけます。
装置概要
透過電子顕微鏡は主に試料を透過または散乱した電子を結像し、試料の微細構造を高い倍率で観察することができます。本装置は電子銃にタングステンフィラメントを搭載した加速電圧100kVクラスの汎用機です。 直接観察でも明るく高コントラストで観察できます。
装置仕様
1.装 置
- 本体：JEOL JEM-1010 （高コントラストタイプP.P.）
- サイドエントリCCDカメラ：GATAN BioScan
2.仕 様
[TEM]
| 分解能 | 格子像：0.2 nm 粒子像：0.4 nm |
| 加速電圧 | 加速電圧：40～100kV レンズ励磁補正：250Vステップ 最小化変量：25V |
| フィラメント | タングステンフィラメント |
| 倍率 | MAGモード：800倍～60万倍 Low MAGモード：50倍～1000倍 SA MAGモード：2500倍～30万倍 IOSモード：2500倍～３万倍 |
| カメラ長 | 制限視野回折：150～3500mm 高分散回折：4～80mm 高分解能回折：337mm |
| 対物レンズ | ポールピース：EM-SAP10B 焦点距離：3.9mm 球面収差計数：3.4mm 色収差計数：3.0mm 最小焦点可変量：9.8nm |
| 試料ステージ | サイドエントリーゴニオメータ |
| 試料装填数 | ２ |
| 試料移動量 | Ｘ方向: 8.5 mm, Ｙ方向: 2.0 mm Ｚ方向: 0.5 mm (Z＋0.2 / －0.3mm) |
| 試料傾斜角 | ±20º（X） |
