全反射蛍光X線分析装置(XRF)

NANOHUNTER

装置概要

蛍光X線分析装置の機器利用供与を開始しました。
封入X線管を使用した卓上型の全反射蛍光X線分析装置です。
全反射蛍光X線分析法の採用により、固体試料表面(数nm)の元素分析を高感度で行うことができます。
卓上型でありながら、全自動光軸調整システムを搭載し、基板によらず安定した分析を行うことができます。
Cdの検出下限は2ppb。液中のAsやSeの場合、0.8ppb以下の検出限界を実現しています。 また、入射X線角度を変更できるので、表面近傍のみならず、深さ方向の元素情報を得ることが可能です。

この機会にぜひ,ご利用のほどお願いいたします。

仕様

1.NANOHUNTER ハードウェア構成 仕様一覧表
項目 備考 仕様
X線管 最大定格 50W 空冷式X線管×2本(X線管1本仕様はオプション)
ターゲット Mo/Cu (X線管1本仕様の場合はいずれか選択)
照射方式 2波長切り替え方式(マルチビームシステム)
X線発生装置 管電圧,管電流 50kVmax,1.0mAmax×2台(標準)
励起X線 分光素子 人工累積膜
照射角 0~2°可変
検出器 重元素用 電子冷却式半導体検出器(SDD)
試料室 測定雰囲気 大気,N₂,He(ガスパージはオプション)
試料交換機 16試料ターレット
標準試料寸法 26×76mm(標準寸法以外も特注対応可)
試料厚さ 0.5~5.0mm
測定径 約φ10mm
データ処理部 ハードウェア パーソナルコンピュータ,17型LCDモニタ
A4カラーインクジェットプリンタ
OS Windows
2.NANOHUNTER 設置仕様 一覧表
項目 備考 仕様
所要電源 本体 単相AC100-240V 500W(50/60Hz)
パソコン 単相AC100-240V 500W(50/60Hz)
接地   D種接地且つ,30Ω以下
パージガス オプション N₂またはHe
供給圧力0.15MPa
0.5L/min
設置環境   室温:15から28℃ 湿度:60%以下
振動:人体に感じない程度
その他:腐食性ガス,ホコリ,粉塵の無いこと
外形寸法/質量 本体部 690(W)×760(D)×660(H)mm 約70Kg

アプリケーション資料、操作マニュアルは以下のリンクを参照ください

アプリケーションNANOHUNTERⅡ


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