機器分析部門の管理機器一覧
各機器には利用料金が設定されています。
詳細は料金一覧でご確認ください。 学外向け料金一覧
【各機器のご利用のお問い合わせは、下記アドレスまでお願いいたします】
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(atmark)は半角@に置き換えて下さい>
csrea-kikiresearch.kobe-u.ac.jp
機器分析棟の設置機器
極低温部門棟の設置機器
高分解能多機能Ｘ線回折装置（XRD）
| 機器の説明 |
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高精度薄膜解析装置 株式会社リガク SuperLab |
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試料水平型多目的X線回折装置 株式会社リガク UltimaⅣProtectus |
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透過型電子顕微鏡（TEM）
| 機器の説明 |
: |
日本電子株式会社 JEM-1010 |
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Gatan社 BioScan Camera Model792 |
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高分解能走査透過分析電子顕微鏡（STEM）
| 機器の説明 |
: |
日本電子株式会社 JEM-2100F , JED-2300 |
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Gatan社 Tridiem |
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クライオイオンスライサー（CIS）
| 機器の説明 |
: |
日本電子株式会社 IB-09060CIS |
卓上走査電子顕微鏡（卓上SEM）
| 機器の説明 |
: |
日本電子株式会社 JCM-7000 NeoScope, JSM-6010LV |
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電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
| 機器の説明 |
: |
日本電子株式会社 JSM-IT800HL
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 C-Nano+ |
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試料作製装置（C-coater, Pt-coater, Os-coater, SP-etcher, TBFD）
| 機器の説明 |
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カーボンコーター 日本電子株式会社 JEC-560 |
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白金コーター 日本電子株式会社 JEC-3000FC |
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オスミウムコーター メイワフォーシス株式会社 Neoc-Pro/P |
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オスミウムコーター メイワフォーシス株式会社 Tennant20 |
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ソフトプラズマエッチング装置 メイワフォーシス株式会社 SEDE-GE |
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t-ブタノール凍結乾燥装置 株式会社真空デバイス VFD-21S |
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走査型光電子分光分析装置（SPES）
| 機器の説明 |
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アルバック・ファイ株式会社 PHI X-tool |
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原子間力顕微鏡装置（AFM）
| 機器の説明 |
: |
走査型プローブ顕微鏡 株式会社島津製作所 SPM-9700HT |
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＜カンチレバーの単品販売について＞
顕微レーザーラマン分光分析装置（RAMAN）
| 機器の説明 |
: |
日本分光株式会社 NRS-7100 |
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可視分光エリプソメータ（ELLIP）
| 機器の説明 |
: |
HORIBA社 自動薄膜計測装置 Auto SE |
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分光蛍光光度計・旋光計（CMS）
| 機器の説明 |
: |
吸光分光光度計 株式会社島津製作所 UV-1900i |
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蛍光分光光度計 株式会社日立ハイテクノロジーズ F-4500 |
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吸光分光光度計 株式会社日立ハイテクサイエンス U-3300 |
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旋光計 HORIBA社 SEPA-300 |
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ICP発光分光分析装置マルチ型（ICP）
| 機器の説明 |
: |
アジレント・テクノロジー株式会社 Agilent 5900 |
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多目的デジタル核磁気共鳴装置（NMR1）
| 機器の説明 |
: |
BRUKER社 Avance-500 |
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電子スピン共鳴装置1（ESR1）
| 機器の説明 |
: |
日本電子株式会社 JES-TE300 |
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蛍光X線分析装置（XRF）
| 機器の説明 |
: |
株式会社日立ハイテクサイエンス EA1400 |
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: |
株式会社リガク NANOHUNTER |
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ウルトラミクロトーム（UMT）
| 機器の説明 |
: |
ライカマイクロシステムズ株式会社 ULTRACUT-UCT |
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電子スピン共鳴装置2（ESR2）
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