機器分析部門の管理機器一覧

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機器分析部門機器分析棟の設置機器

高分解能多機能Ｘ線回折装置（XRD） 透過型電子顕微鏡（TEM）
高分解能走査透過分析電子顕微鏡（STEM） クライオイオンスライサー（CIS）
走査型分析電子顕微鏡（SEM） 電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）【故障中】
試料作製装置（C-coater, Pt-coater,Os-coater, SP-etcher） 走査型光電子分光分析装置（SPES）
原子間力顕微鏡装置（AFM） 顕微レーザーラマン分光分析装置（RAMAN）
可視分光エリプソメータ（ELLIP） 分光蛍光光度計・旋光計（CMS）
多元素シーケンシャル型ＩＣＰ発光分光装置（ICP） 多目的デジタル核磁気共鳴装置（NMR1）
電子スピン共鳴装置1（ESR1） 全反射蛍光X線分析装置（XRF）

極低温部門極低温部門棟の設置機器

電子スピン共鳴装置2（ESR2）
高分解能多機能Ｘ線回折装置（XRD）
機器の説明 : 高精度薄膜解析装置 株式会社リガク SuperLab
: 試料水平型多目的X線回折装置 株式会社リガク UltimaⅣProtectus
: 単結晶X線構造解析装置 株式会社リガク R-AXISⅣ++
設置場所 : 機器分析棟203

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マニュアル : SuperLab ※ZIP形式で圧縮されています。解凍してご利用ください。
マニュアル : Ultima
透過型電子顕微鏡（TEM）
機器の説明 : 日本電子株式会社 JEM-1010
: Gatan社  BioScan Camera　Model792
設置場所 : 機器分析棟204

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マニュアル : TEM
高分解能走査透過分析電子顕微鏡（STEM）
機器の説明 : 日本電子株式会社 JEM-2100F , JED-2300
: Gatan社 Tridiem
設置場所 : 機器分析棟102

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マニュアル : TEM-STEM EDS EELS TEMography
クライオイオンスライサー（CIS）
機器の説明 : 日本電子株式会社 IB-09060CIS
設置場所 : 機器分析棟102前室
詳しく見る : クライオイオンスライサー
（メーカHP）		 イオンクリーナー等の周辺機器
（メーカーHP）
マニュアル : CIS
走査型分析電子顕微鏡（SEM）
機器の説明 : 日本電子株式会社 JSM-5610LVS【故障中】, EX-54143MUP【故障中】,JSM-6010LV
設置場所 : 機器分析棟209(現在設置機器が故障中)
学内利用機器(JSM-6010LV) : 農学部F棟501室

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マニュアル : SEM SEM-EDS
電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）【故障中】
機器の説明 : 日本電子株式会社 JSM-7100F , JED-2300
設置場所 : 機器分析棟310

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マニュアル : FE-SEM FE-SEM-EDS
試料作製装置（C-coater, Pt-coater, Os-coater, SP-etcher）
機器の説明 : カーボンコーター　日本電子株式会社 JEC-560
: 白金コーター　日本電子株式会社 JEC-3000FC
: オスミウムコーター　メイワフォーシス株式会社 Neoc-Pro/P
: オスミウムコーター　メイワフォーシス株式会社 Tennant20
: ソフトプラズマエッチング装置　メイワフォーシス株式会社 SEDE-GE
設置場所 : 機器分析棟310

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マニュアル : オスミウムコーター（Neoc-Pro） オスミウムコーター（Tennant20） ソフトプラズマエッチング装置
走査型光電子分光分析装置（SPES）
機器の説明 : アルバック・ファイ株式会社 PHI X-tool
設置場所 : 機器分析棟208

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マニュアル : SPES MultiPak（解析ソフト）
原子間力顕微鏡装置（AFM）
機器の説明 : 大気、液中型ユニット　株式会社日立ハイテクサイエンス SPA400
: 環境制御型ユニット　株式会社日立ハイテクサイエンス E-sweep
設置場所 : 機器分析棟209
学内利用機器 (SPM-9600) : 工学部棟3E-202室

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＜カンチレバーの単品販売について＞

マニュアル : SPA400 E-sweep カンチレバー
学内利用機器マニュアル (SPM-9600) : SPM-9700 Hardware Manual SPM-9700 Software Manual SPM-9700 Operation Manual simple ver. Software Manual for Particle Analysis SPM-9600 Upgarade-kit Manual
顕微レーザーラマン分光分析装置（RAMAN）
機器の説明 : 日本分光株式会社 NRS-7100
設置場所 : 機器分析棟206

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マニュアル : RAMAN
可視分光エリプソメータ（ELLIP）
機器の説明 : HORIBA社 自動薄膜計測装置 Auto SE
設置場所 : 機器分析棟202

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マニュアル : Auto SE操作簡易マニュアル 液体セルの使用方法
分光蛍光光度計・旋光計（CMS）
機器の説明 : 蛍光分光光度計 株式会社日立ハイテクノロジーズ F-4500
: 吸光分光光度計 株式会社日立ハイテクサイエンス U-3300
: 旋光計 HORIBA社 SEPA-300
設置場所 : 機器分析棟202

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マニュアル : U-3300 F-4500
多元素シーケンシャル型ＩＣＰ発光分光装置（ICP）
機器の説明 : 株式会社日立ハイテクサイエンス（旧SII） SPS3100（24HV）
設置場所 : 機器分析棟207

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マニュアル : ICP ICP-SII ICPについて
多目的デジタル核磁気共鳴装置（NMR1）
機器の説明 : BRUKER社 Avance-500
設置場所 : 機器分析棟101

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マニュアル : NMR簡易操作マニュアル TopSpin2基本および応用測定抜粋マニュアル
: TopSpin2基本操作マニュアル TopSpin2応用操作マニュアル
: NMRスピナー取扱い注意 固体NMR操作マニュアル
電子スピン共鳴装置1（ESR1）
機器の説明 : 日本電子株式会社 JES-TE300
設置場所 : 機器分析棟105

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マニュアル : ESR1
全反射蛍光X線分析装置（XRF）
機器の説明 : 株式会社リガク NANOHUNTER
設置場所 : 機器分析棟205

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マニュアル : XRF
電子スピン共鳴装置2（ESR2）
機器の説明 : BRUKER社 EMX8/2.7
設置場所 : 極低温部門実験棟2階203号室

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マニュアル : ESR2
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