機器分析部門の管理機器一覧

料金各機器には利用料金が設定されています。
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メール csrea-kikiatmarkresearch.kobe-u.ac.jp



機器分析部門機器分析棟の設置機器

極低温部門極低温部門棟の設置機器


高分解能多機能X線回折装置(XRD)
機器の説明 : 高精度薄膜解析装置 株式会社リガク SuperLab
: 試料水平型多目的X線回折装置 株式会社リガク UltimaⅣProtectus
設置場所 : 機器分析棟203

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マニュアル : SuperLab ※ZIP形式で圧縮されています。解凍してご利用ください。
マニュアル : Ultima

透過型電子顕微鏡(TEM)
機器の説明 : 日本電子株式会社 JEM-1010
: Gatan社  BioScan Camera Model792
設置場所 : 機器分析棟204

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マニュアル : TEM

高分解能走査透過分析電子顕微鏡(STEM)
機器の説明 : 日本電子株式会社 JEM-2100F , JED-2300
: Gatan社 Tridiem
設置場所 : 機器分析棟102

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マニュアル : TEM-STEM EDS EELS TEMography

クライオイオンスライサー(CIS)
機器の説明 : 日本電子株式会社 IB-09060CIS
設置場所 : 機器分析棟102前室
詳しく見る : クライオイオンスライサー
(メーカHP)
イオンクリーナー等の周辺機器
(メーカーHP)
マニュアル : CIS

卓上走査電子顕微鏡(卓上SEM)
機器の説明 : 日本電子株式会社 JCM-7000 NeoScope, JSM-6010LV
設置場所 : 機器分析棟311
学内利用機器(JSM-6010LV) : 農学部F棟501室(利用希望の型は事前にcsrea-kiki@research.kobe-u.ac.jp宛へご連絡ください)

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マニュアル : 卓上SEM 傾斜ホルダー

電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
機器の説明 : 日本電子株式会社 JSM-IT800HL
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 C-Nano+
設置場所 : 機器分析棟310

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マニュアル : FE-SEM EBSD

試料作製装置(C-coater, Pt-coater, Os-coater, SP-etcher, TBFD)
機器の説明 : カーボンコーター 日本電子株式会社 JEC-560
: 白金コーター 日本電子株式会社 JEC-3000FC
: オスミウムコーター メイワフォーシス株式会社 Neoc-Pro/P
: オスミウムコーター メイワフォーシス株式会社 Tennant20
: ソフトプラズマエッチング装置 メイワフォーシス株式会社 SEDE-GE
: t-ブタノール凍結乾燥装置 株式会社真空デバイス VFD-21S
設置場所 : 機器分析棟311

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マニュアル : オスミウムコーター(Neoc-Pro) オスミウムコーター(Tennant20) ソフトプラズマエッチング装置

走査型光電子分光分析装置(SPES)
機器の説明 : アルバック・ファイ株式会社 PHI X-tool
設置場所 : 機器分析棟208

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マニュアル : SPES MultiPak(解析ソフト)

原子間力顕微鏡装置(AFM)
機器の説明 : 走査型プローブ顕微鏡 株式会社島津製作所 SPM-9700HT

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<カンチレバーの単品販売について>


顕微レーザーラマン分光分析装置(RAMAN)
機器の説明 : 日本分光株式会社 NRS-7100
設置場所 : 機器分析棟206

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マニュアル : RAMAN

可視分光エリプソメータ(ELLIP)
機器の説明 : HORIBA社 自動薄膜計測装置 Auto SE
設置場所 : 機器分析棟202

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マニュアル : Auto SE操作簡易マニュアル 液体セルの使用方法

分光蛍光光度計・旋光計(CMS)
機器の説明 : 吸光分光光度計 株式会社島津製作所 UV-1900i
: 蛍光分光光度計 株式会社日立ハイテクノロジーズ F-4500
: 吸光分光光度計 株式会社日立ハイテクサイエンス U-3300
: 旋光計 HORIBA社 SEPA-300
設置場所 : 機器分析棟202

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マニュアル : U-3300 F-4500 SEPA-300

ICP発光分光分析装置マルチ型(ICP)
機器の説明 : アジレント・テクノロジー株式会社 Agilent 5900
設置場所 : 機器分析棟207

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多目的デジタル核磁気共鳴装置(NMR1)
機器の説明 : BRUKER社 Avance-500
設置場所 : 機器分析棟101

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マニュアル : NMR簡易操作マニュアル TopSpin2基本および応用測定抜粋マニュアル
: TopSpin2基本操作マニュアル TopSpin2応用操作マニュアル
: NMRスピナー取扱い注意 固体NMR操作マニュアル

電子スピン共鳴装置1(ESR1)
機器の説明 : 日本電子株式会社 JES-TE300
設置場所 : 機器分析棟105

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マニュアル : ESR1

蛍光X線分析装置(XRF)
機器の説明 : 株式会社日立ハイテクサイエンス EA1400
: 株式会社リガク NANOHUNTER
設置場所 : 機器分析棟205

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マニュアル : XRF (NANOHUNTER)

ウルトラミクロトーム(UMT)
機器の説明 : ライカマイクロシステムズ株式会社 ULTRACUT-UCT
設置場所 : 機器分析棟102前室

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マニュアル : 準備中(UMT)

電子スピン共鳴装置2(ESR2)
機器の説明 : BRUKER社 EMX8/2.7
設置場所 : 極低温部門実験棟2階203号室

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マニュアル : ESR2

回転粘度計 B型/E型
機器の説明 : 株式会社アントンパール・ジャパン
ViscoQC 300L, ViscoQC 300H, PTD100
設置場所 : 機器分析棟 307

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